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SOLUTION / MEASUREMENT SYSTEM

誘電特性評価システムVSPS-FS

独自の誘電体プローブを用いたフリースペース法により、V帯〜W帯（60〜110GHz）で、透過減衰（S21）・反射減衰（S11）と複素誘電率をPC操作だけで評価するシステムです。VNAを用いない低コストな構成、誘電体プローブによるコンパクトな自由空間光学系、柔軟なソフトウェア対応により、インライン向けに最適です。

インライン向けに最適V帯〜W帯（60〜110GHz）S21・S11・複素誘電率
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特長

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VNAを用いないシステム構築

当社製ベクトル信号計測システムと、TX/RXの周波数拡張モジュールで構成し、VNAの導入なくシステムを構築できます。

Extender TX RF Module TXアップコンバート、S11ダウンコンバート Extender RX RF Module RXダウンコンバート 誘電体プローブ（TX） 誘電体プローブ（RX） DUT（サンプル） 平面波 透過（S21） 反射（S11） Vector Signal Processing System 基準信号発生 ／ IF処理 ／ ロックイン検出 RF / LO IF (S11 / REF) IF (S21) PC（S/W） 校正・タイムゲート・解析・CSV出力

システム構成の概念図（機器間の配線は省略）

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誘電体プローブによるコンパクトな自由空間光学系

独自の誘電体プローブ（DCP）により、自由空間光学系（平面波系）をコンパクトに構築。面積が小さいサンプルや、厚みのあるサンプルも計測できます。

誘電体プローブとサンプル保持治具（自由空間光学系）
自由空間光学系の例
WR-10誘電体プローブ（DCP）の電界分布の実測図：先端から直径約5mmのジェット状ビームが形成される
誘電体プローブ（WR-10 DCP）の電界分布（実測）。先端から直径約5mmのジェット状ビームが形成され、サンプルに照射されます。
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S/W：測定から解析まで、ボタン操作だけ

S/Wはご要望に応じてカスタマイズ可能です。以下の事例では、サンプルをセットして「測定開始」を押すだけで、周波数掃引からタイムゲート処理、Sパラメータの算出、CSV保存までを自動で実行し、グラフを表示する仕様としています。

  1. サンプルをセットして「測定開始」 保存先とサンプル名を入れて測定開始。掃引〜解析〜CSV追記まで一括実行します。
    専用S/Wの測定タブ。測定開始ボタンと3点周波数の結果表示
  2. S21・S11のグラフを表示 タイムゲート処理前後のS21・S11を周波数軸で表示。代表周波数の値は数値でも確認できます。
    Re-FDグラフ：S21とS11の周波数特性（タイムゲート処理前後）
  3. 必要に応じて誘電率解析 測定CSVを選び、厚みを入れて「解析実行」。NRW法で複素誘電率を求め、グラフ表示・CSV保存します。
    誘電率解析タブ。CSVを選択し厚みなどを設定して解析実行

S/Wはご要望に応じてカスタム対応

S/Wは当社内製のため、工程や評価目的に合わせて柔軟に対応できます。

  • 閾値によるOK/NG判定、代表周波数の変更、ロット単位のCSV集計
  • タイムゲート条件や解析パラメータの最適化（低ロスな透過材向けなど）
  • 出力フォーマットの変更、上位システムやデータベースとの連携
  • 複数サンプルの連続測定、治具・搬送機構との連動

関連: 電場可視化評価 ／ ミリ波〜サブテラヘルツ帯FDS（材料計測）

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受託研究・開発（業務委託）、計測装置の開発・製造、ソフトウェア開発、共同研究など、形態を問わず対応します。

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